بررسی اثر خمش ساختار نانو لوله سیلیکونی تک لایه در خواص الکترونیکی و نوری آن
Curvature effects on the electronic and optical properties of single-walled silicon nanotube within tight-binding model
نویسندگان :
محسن حیدری ( دانشگاه تربیت مدرس ) , وحید احمدی ( دانشگاه تربیت مدرس ) , سارا درباری ( دانشگاه تربیت مدرس )
کليدواژه ها
silicon nanotube; silicene; curvature effect; electronic properties; optical propertiesکد مقاله / لینک ثابت به این مقاله
برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است :نحوه استناد به مقاله
در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:, 1395 , بررسی اثر خمش ساختار نانو لوله سیلیکونی تک لایه در خواص الکترونیکی و نوری آن , بیست و چهارمین کنفرانس مهندسی برق ایران
دیگر مقالات این رویداد
تماس با ما
شیراز،بلوار جمهوری اسلامی، دانشگاه شیراز
تلفن:36134000 (مرکز تلفن) - 36286418 (روابط عمومی)
کد پستی : ۸۴۳۳۴ - ۷۱۹۴۶
آدرس ایمیل : webadmin@shirazu.ac.ir
© کلیه حقوق متعلق به دانشگاه شیراز میباشد. (همایش نگار نسخه 10.1.1)